声表器件质量管理与质量风险相关性分析

【类型】期刊

【作者】支越 梅强 王之哲 王小强 刘焱 

【关键词】 质量管理 质量风险 相关性 递阶偏最小二乘法 声表面波

【刊名】压电与声光

【出版日期】2017-01-01

【ISSN】1004-2474

【页码】479-482

【期号】第3期

【作者单位】江苏大学管理学院；工业和信息化部电子第五研究所

【作者简介】支越(1966-)，男，江苏镇江人，高级工程师，博士生，主要从事电子元器件质量管理技术的研究。

【摘要】声表面波器件因体积小,质量小,信号处理简单,适于批量生产及可靠性高等优点,在雷达、通信、导航和电视等领域有着广阔的应用前景。目前,我国声表面波器件产品检验合格率相对偏低,质量不高,制约了整个行业的发展。该文通过分析电子元器件质量管理要素与质量风险间的相关性,提出了一种能够通过评价电子元器件质量管理水平预测其质量风险的方法,为声表器件研制企业改善产品质量风险提供了借鉴与参考。

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